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Elementi di portfolio

AFM-IR integrato su scala nanometrica

Park nano-IR integra la spettroscopia infrarossa (IR) e la microscopia a forza atomica (AFM)

Compound semiconductor

Wafer di SiC, InP, GaAs. Ge, InSb, InAs, GaN

Wafer SOI

Scoprite i vantaggi avanzati dei wafer Silicon-on-Insulator (SOI), progettati per migliorare le prestazioni e l'efficienza nelle applicazioni dei semiconduttori.

Park FX200

FX-200 AFM per campioni di grandi dimensioni

Componenti PLD/PED

Neocera offre una varietà di componenti che possono essere montati e combinati in sistemi PLD e PED nuovi o esistenti

Diagnostica in situ

Accessori per completare esistenti sistemi PLD/PED

Sistemi PLD

La Laser Pulsed Deposition (PLD) è una tecnica versatile di deposizione di film sottili. Un laser a impulsi (larghezza di impulso di ~20 ns) fa evaporare rapidamente un materiale bersaglio formando un film sottile che mantiene la composizione del target

Sistemi PED

La deposizione elettronica pulsata (PED) è un processo in cui un fascio di elettroni pulsato (80-100 ns) ad alta potenza (~1000 A, 15 kV) penetra per circa 1 μm nel target, provocando una rapida evaporazione del materiale

Difrattometro STADI MP

Lo STADI MP combina le due configurazioni diffrattometriche più comuni: Trasmissione/Debye-Scherrer e geometria di Bragg-Brentano con un set-up aggiuntivo per la micro-diffrazione.

Difrattometro stradivari

Lo STOE STADIVARI: flessibile per cristalli e polveri, installazione verticale/orizzontale. Configurazione a doppio fascio con tubi e BDS a microfocus. Integrazione nel software STOE X-AREA.

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