Sei in: Home / Home / Prodotti / Caratterizzazione superficiale / Microscopia a forza atomica AFM / Controllo qualità

Elementi di portfolio

Park FX200

FX-200 AFM per campioni di grandi dimensioni

Difrattometro STADI P

Goniometro STOE STADI P: preciso, versatile, per diffrazione polveri. Montaggio verticale/orizzontale, geometria trasmissione o Bragg-Brentano

Difrattometro STADI MP

Lo STADI MP combina le due configurazioni diffrattometriche più comuni: Trasmissione/Debye-Scherrer e geometria di Bragg-Brentano con un set-up aggiuntivo per la micro-diffrazione.

Difrattometro stradivari

Lo STOE STADIVARI: flessibile per cristalli e polveri, installazione verticale/orizzontale. Configurazione a doppio fascio con tubi e BDS a microfocus. Integrazione nel software STOE X-AREA.

Pagine

Filmetrics - misura spessore e resistività dei film sottili

KLA - Profilometri a stilo ed ottici 3D

KLA - Nanoindentatori

VLSI Standards - Standard per Profilometri, AFM, SEM

MKS Instruments - Sistemi di Taratura

MKS Instruments - Misura e controllo del Flusso Gassoso

Latest Projects



net zero website

GAMBETTI KENOLOGIA SRL


Via Volta n°27
20082 Binasco (MI)

Tel. 02/90093082

Fax. 02/9052778

P.I. IT08000120157



PEC
vendite.gambetti@pec.it

Commerciale
sales@gambetti.it

Assistenza tecnica
service@gambetti.it

Prodotti usati
occasioni@gambetti.it

Privacy Policy – Cookie Policy