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297 risultati per la ricerca di:
1st International Conference on Materials, Mimicking, Manufacturing from and for Bio Application
Gambetti Kenologia parteciperà al BioM&M; the first International Conference on Materials, Mimicking, Manufacturing from and for Bio Application, che si terrà c/o Politecnico di Milano, Campus Bovisa dal 27 al 29 Giugno 2018. Link sito BioMM.
Nanoindentatori serie G200 e T150 KLA-Tencor
KLA-Tencor ha acquisito la linea di prodotti per la nanoindentazione da Keysight Technologies. La gamma di questi nuovi prodotti arricchisce il portafoglio di prodotti KLA-Tencor per fornire strumenti avanzati per test meccanici su scala nanometrica. Per maggiori informazioni non esistate a contattarci Scrivi una mail
Discovering Advanced AFM – Bologna 12 Ottobre 2017
In collaborazione con il CNR ISMN di Bologna, Gambetti Kenologia e la Park Systems organizzano, per il 12 ottobre pv, un pomeriggio-evento sulla Tecnololgia AFM, alla presenza del Fondatore e Presidente della Park Systems, il Dr. Sang-Il Park. Oltre ad una sua presentazione sullo stato dell´Arte, seguirà una serie di presentazioni sull´uso dell´AFM a livello […]
Processi ALD per materiali 2D: Introduzione al FlexAl 2D
Atomic layer deposition (ALD) of 2D transition metal dichalcogenides (TMDCs) for nanodevice applications Our ALD and 2D technical specialists have teamed with the Eindhoven University of Technology research teams to realise ALD of 2D TMDCs for nanodevice applications. The FlexAL-2D offers a number of benefits for growth of 2D materials: 2D materials growth: At CMOS […]
Nanoinnovation 2017 Roma 26-29 settembre 2017
Saremo presenti alla conferenza Nanoinovation 2017 insieme alla nostra rappresentata Park Systems, dove esporremo un AFM NX10 oltre a tenere due sessioni teoriche e pratiche sulla microscopia AFM di Park Systems.
ULVAC nuova rappresentanza
Dal 1° Luglio 2017 la Gambetti Kenologia Srl, ha preso la rappresentanza della societa multinazionale Giapponese ULVAC Inc. per la distribuzione degli ellissometri spettrali della serie UNECS, e per i cercafughe ad elio dell serie HELIOT.
NX12 AFM per misure elettrochimiche
Nuovo AFM da Park Systems per le misure elletrochimiche implementa le tecniche SECM (Scanning Electro-Chemical Microscope), SECCM (Scanning Electro-Chemical Cell Microscope) e anche EC-STM (Electro-Chemical -Scanning Tunneling Microscope). Per maggiori informazioni consulate la pagina dedicata
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