Standard di resistività
Standard per resistivita in Silicio drogato n o p
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Standard per resistivita in Silicio drogato n o p
Standard di spessore assoluti
Standard di contaminazioni assoluti (ACS)
Standard di riferimento dimensionali, per SEM, AFM ed Interferometri
Servizio di ricertificazione standard VLSI
Software SmartScan è il nuovo rivoluzionario software di gestione degli AFM Park
Lo spettrometro XPS ESCALAB 250 Xi+ soddisfa le richieste di coloro che necessitano di maggiori prestazioni analitiche unite alla flessibilità.
Il Qtac100 per l’analisi LEIS (low Energy Ion Scattering)
Lo spettrometro Thermo Scientific™ K-Alpha™ XPS è stato progettato per fornire risultati di alta qualità sulla base di un flusso di lavoro semplificato. Ha un funzionamento semplice e intuitivo, senza dover rinunciare alle capacità di analisi sia in termini di performance che di XPS.
Sistema a campana di alta qualità ed affidabilità, ideale per piccole produzioni o per ricerca e sviluppo.