Standard di resistività
Standard per resistivita in Silicio drogato n o p
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Standard di riferimento dimensionali, per SEM, AFM ed Interferometri
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Servizio di ricertificazione standard VLSI
Software SMARTSCAN
Software SmartScan è il nuovo rivoluzionario software di gestione degli AFM Park
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Lo spettrometro XPS ESCALAB 250 Xi+ soddisfa le richieste di coloro che necessitano di maggiori prestazioni analitiche unite alla flessibilità.
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