Se non siete soddisfatti dei risultati conseguiti per favore fare una nuova ricerca
Vi invitiamo a partecipare al Workshop “Advanced SPM for Material Investigation”, che organizzeremo insieme all’ Università Federico II di Napoli, CNR SPIN e Park System AFM, durante la giornata del 19 di Giugno 2019. Luogo dell’evento: Università Federico II di Napoli sede di Ingegneria della Scuola Politecnica e delle Scienze di Base (Aula Bobbio) in […]
Partecipa all’ evento satellite di Park System durante il Nanoinnovation 2019 dal titolo “Advances in surface electrical characterization at the nanoscale by using Scanning Kelvin probe microscopy (SKPM) Atomic Force Microscopy (AFM) Seminar and Live Demo”
Saremo presenti alla annuale conferenza sulle nanotecnologie “Nanoinnovation” che si terrà a Roma presso la sede storica dell’Università La Sapienza vicino alla basilica di S. Pietro in Vincoli. Sito Nanoinnovation 2019
Spettrofotometri per la mappatura 3D automatica dei film sottili su più punti, per dimensioni fino a 200mm di diametro e con diverse lunghezze d’onda
Sistema per la misura dello spessore dei film sottili con spot di 1 um, adattabile anche mu microscopi ottici esistenti, grazie all’adattatore Cmount.
Sistemi da tavolo per la misurazione dello spessore dei film sottili e del loro indice di rifrazione disponibili con varie lunghezze d’onda da 190 a 1690 nm.
Sistemi optical monitor per la misura del rate di deposizione, spessore del film, constanti ottiche, all’interno dei sistemi di deposizione per film sottili
Profilometro ottico 3D a luce bianca WLI, primo strumento al mondo ad un costo contenuto che consente di ottenere misure 3D, di rugosità, gradini, in modo semplice ed accurato
Saremo presenti alla XXIV conferenza dell’Associazione Italiana del Vuoto che si terrà a dal 7 al 10 Maggio presso il centro conference Hilton/RG Hotel di Giardini Naxos. Per scaricare il programma
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