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284 risultati per la ricerca di:
StSPM19EV Science through Scanning Probe Microscopy
Saremo presenti insieme alla nostra rappresentata Park Systems, all’evento StSPM19EV organizzato dalla società italiana di microscopia (SISM) e in collabrazione con l’istituto dei materiali nanostrutturati del CNR (ISMN) e dal dipertimento dell’Università di Bologna di scienze Biologiche e Geologiche (BiGea) dal 21 al 22 Novembre 2019. Il workshop ha lo scopo di illustrare i progressi […]
WORKSHOP: Advanced SPM for Materials Investigation Napoli 19 Giugno
Vi invitiamo a partecipare al Workshop “Advanced SPM for Material Investigation”, che organizzeremo insieme all’ Università Federico II di Napoli, CNR SPIN e Park System AFM, durante la giornata del 19 di Giugno 2019. Luogo dell’evento: Università Federico II di Napoli sede di Ingegneria della Scuola Politecnica e delle Scienze di Base (Aula Bobbio) in […]
Seminario e Live demo “Advances in surface electrical characterization at the nanoscale by using Scanning Kelvin probe microscopy (SKPM) Atomic Force Microscopy (AFM)”
Partecipa all’ evento satellite di Park System durante il Nanoinnovation 2019 dal titolo “Advances in surface electrical characterization at the nanoscale by using Scanning Kelvin probe microscopy (SKPM) Atomic Force Microscopy (AFM) Seminar and Live Demo”
Nanoinnovation 2019 – Roma 11 – 14 Giugno
Saremo presenti alla annuale conferenza sulle nanotecnologie “Nanoinnovation” che si terrà a Roma presso la sede storica dell’Università La Sapienza vicino alla basilica di S. Pietro in Vincoli. Sito Nanoinnovation 2019
Sistemi di mappatura automatici
Spettrofotometri per la mappatura 3D automatica dei film sottili su più punti, per dimensioni fino a 200mm di diametro e con diverse lunghezze d’onda
Misurazioni microscopiche a singolo punto
Sistema per la misura dello spessore dei film sottili con spot di 1 um, adattabile anche mu microscopi ottici esistenti, grazie all’adattatore Cmount.
Misurazioni dello spessore a singolo punto
Sistemi da tavolo per la misurazione dello spessore dei film sottili e del loro indice di rifrazione disponibili con varie lunghezze d’onda da 190 a 1690 nm.
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