Descrizione
Z-300 è un profilometro ottico confocale avanzato progettato per offrire la massima flessibilità di configurazione e una maggiore sensibilità e ripetibilità di misura. Il sistema di isolamento a basso rumore di Zeta-300 lo rende adatto per misure di altezza e rugosità di livello nm.
Caratteristiche principali
Zeta-300 è disponibile con diverse tecniche di imaging avanzate per soddisfare le tue esigenze:
- L’imaging 3D innovativo di ZDot è di serie su tutti i nostri profilometri La tecnologia ZDot™ con i nostri metodi di illuminazione di campo e trasmissivi unici, oltre che una varietà di obiettivi consente allo strumento di gestire le superfici più “difficili”.
- L’analisi con contrasto dell’interferenza differenziale ZIC è ideale per la misura della rugosità della superficie di livello sub-nanometrico.
- L’interferometro ZSI fornisce una risoluzione verticale del livello Angstrom.
- L’interferometria a scansione verticale ZX5 è ideale per misurare le altezze dei nanometri su un ampio campo visivo.
- Opzione di misurazione dello spessore del film sottile basata su riflettometria ZFT.
Panoramica
Z-300 è un profilomero ottico avanzato progettato per offrire la massima flessibilità di configurazione e una maggiore sensibilità e ripetibilità di misura.
Il sistema di isolamento a basso rumore di Zeta-300 lo rende adatto per misure di altezza e rugosità di livello nm.
Vibrazione integrata e isolamento acustico
Lo Zeta-300 ha integrato l’isolamento delle vibrazioni ambientali, questo rende Z-300 molto più facile da installare e utilizzare rispetto ai sistemi che si affidano all’isolamento delle vibrazioni di terze parti.
Lo strumento può anche essere dotato di un telaio chiuso, per un isolamento acustico aggiuntivo o di un telaio aperto, per facilitare la gestione dei campioni.
Zeta-300 può essere automatizzato per migliorare le performance di misura, rendendolo adatto a un’ampia gamma di applicazioni di misura.