Vista-IR combina la tecnica AFM e la spettroscopia IR (AFM-IR) per fornire immagini spettrali IR con una risoluzione spaziale sub-10 nm senza precedenti. La sua microscopia photo-induced force microscopy (PiFM) misura la risposta ottica del campo vicino (near field) del campione tramite il rilevamento della forza meccanica, rendendo la tecnica robusta e di facile utilizzo. Lo spettro PiFM affidabile e ripetibile dalla regione di 10 nm offre uno spettro “nano-FTIR” in meno di un secondo.
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