Il cannone a ioni di argon clusterizzati, di tipo duale MAGCIS ™ di Thermo Scientific ™ consente analisi di profili “depth profiling” e la pulizia superficiale di materiali soffici e duri sullo stesso strumento XPS.
Il passaggio tra sputtering a gas e sputtering monatomico viene gestito completamente dal software Avantage e può essere eseguito in pochi secondi.
Vantaggi di una sorgente ionica Dual Mode
Indagare i rivestimenti resistenti all’olio su touch screen, misurare rivestimenti depositati via plasma di dispositivi biomedici, studiare LED organici o celle solari mediante il misura dei singoli strati di materiali usando il depth profiling.
Le tradizionali sorgenti di ioni monatomiche utilizzate per molti anni per il depth profiling e per la pulizia delle superfici avevano ed hanno dei limiti quando queste vengono utilizzate su materiali più morbidi come i polimeri. Questi ioni provocheranno danni alla superficie e modificando la chimica del
campione. Le nuove sorgenti di ioni cluster a gas superano queste limitazioni, consentendo l’analisi di diverse classi di materiali precedentemente inaccessibili alla depth profiling XPS. Link prodotto
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