AFM-IR: Innovazione nella spettroscopia infrarossa

Nano-IR AFM

Park nanospettroscopia IR

AFM-Integrated Nanoscale IR Spectroscopy for Precise Chemical Analysis

Park nano-IR integra la spettroscopia infrarossa (IR) su nanoscala con la microscopia a forza atomica (AFM) per fornire una caratterizzazione avanzata di sostanze chimiche e materiali. Incorporando la più recente spettroscopia infrarossa, la microscopia a forza fotoindotta (PiFM), nella piattaforma Park AFM leader del settore, questo sistema offre prestazioni senza pari nell’analisi su nanoscala.

Rivoluzionare la spettroscopia nano-IR

Immagini chimiche ad alta risoluzione

Park nano-IR offre una risoluzione spaziale superiore a quella della spettroscopia IR convenzionale e di altre tecniche su nanoscala, garantendo al contempo una risoluzione e una precisione di misurazione costantemente elevate durante l’analisi. Utilizzando un metodo senza contatto, previene il danneggiamento del campione ed evita la contaminazione della punta, consentendo misurazioni affidabili. Questa capacità porta l’analisi molecolare nel regno della vera nanoscala, fornendo sia spettri di assorbimento IR che mappatura chimica con una risoluzione spaziale di circa 10 nm e sensibilità monostrato. L’integrazione delle tecniche a banda laterale consente il rilevamento di informazioni sui legami molecolari sottili, con approfondimenti sensibili alla profondità tramite metodi di rilevamento bimodale a guida diretta e a banda laterale.

Allineamento automatico del fascio laser IR

Progettati per essere efficienti, i sistemi AFM della serie FX sono dotati di montaggio automatico della sonda e allineamento laser IR. Questa configurazione semplificata riduce notevolmente i tempi di preparazione della misurazione, migliorando la comodità complessiva dell’utente.

Analisi completa dei materiali

Progettati per essere efficienti, i sistemi AFM della serie FX sono dotati di montaggio automatico della sonda e allineamento laser IR. Questa configurazione semplificata riduce notevolmente i tempi di preparazione della misurazione, migliorando la comodità complessiva dell’utente.

Tecnologia PiFM all’avanguardia

L’approccio PiFM utilizza una tecnica di rilevamento senza contatto che supera i metodi tradizionali come la risonanza indotta fototermica (PTIR) in termini di risoluzione spaziale, affidabilità di misurazione e sicurezza del campione.

Con Park nano-IR, gli utenti possono ottenere spettri IR ad alta risoluzione e immagini di assorbimento IR su scala nanometrica, consentendo un’analisi chimica dettagliata di materiali complessi. Inoltre, gli spettri IR ad alta risoluzione mostrano un’eccellente correlazione con la spettroscopia FTIR (Fourier Transform Infrared) convenzionale. Metodi di rilevamento avanzati, tra cui tecniche bimodali a trasmissione diretta e a banda laterale, consentono l’estrazione di preziose informazioni sui materiali da diverse profondità.

La microscopia a forza indotta da foto (PiFM) è una tecnica SPM che unisce la spettroscopia a infrarossi (IR) con l’AFM. Consente l’analisi simultanea sia della composizione chimica che della topografia del campione.

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