Offrendo ai ricercatori la possibilità di utilizzare lo strumento sia in ambienti in-situ che in ambienti diversi, a seconda delle esigenze dell’esperimento, NanoFlip è progettato per essere oggi lo strumento di test per lo studio delle proprietà meccaniche più versatile sul mercato.
Offrendo il trasduttore di caratterizzazione meccanica più performante sul mercato, a un prezzo competitivo, in sinstesi permettiamo ai nostri clienti la capacità di eseguire test accurati su una vasta gamma di materiali, inoltre a una larga possibilità di set-up per il vostro laboratorio, pur comunque rimanendo fedeli al nostro motto di ottenere di più, di meno.
Opzioni di imaging senza limiti
Progettato per essere compatibile con il vuoto come tutti gli strumenti della nostra gamma di prodotti, NanoFlip è pertanto ideale per ambienti in-situ come SEM, FIB e camere da vuoto, utilizzando i microscopi stessi per l’acquisizione delle immagini. Quando i tuoi esperimenti ti portano ex-situ, NanoFlip è pronto ad aiutarvi grazie alla possibilità di lavorare anche con qualsiasi sistema di imaging disponibile, come AFM, microscopi ottici e profilometri ottici.
Specifiche dell’attuatore
Misura del dislocamento: sensore capacitivo
Intervallo di spostamento: 50 micron
Risoluzione dello spostamento (elettronico): 0,001 nm
Rumore tipico dell’ottica: <0,1 nm
Applicazione del carico: elettromagnetico
Carico massimo: 50 mN
Risoluzione del carico: 3 nN
Specifiche del controller
Velocità di acquisizione dati: 100 kHz
Frequenza di controllo della CPU in closed loop: 500 Hz