Microscopio a forza atomica NX10

L’accuratezza dei dati è di fondamentale importanza nella ricerca e la credibilità di una ricerca si basa  sulla solidità dei risultati.

Il nuovo microscopio a forza atomica NX10 è la punta di diamante nella linea di prodotti Park System e garantisce un’eccezionale accuratezza di costruzione dell’immagine, velocità di scansione e tempo di vita della punta.
L’NX10 è il primo strumento in grado di misurare direttamente la topografia in Z attraverso un sensore lineare indipendente dal motore di scansione e consente di lavorare in True Non Contact Mode AFM con elevatissima linearità ed ortogonalità degli assi XYZ e bassissima deriva termica grazie alla combinazione di materiali auto compensati utilizzati.

Gli elementi distintivi della tecnologia Park NX10 sono:

• Immagini AFM accurate grazie all’eliminazione del Crosstalk elettronico Moto lineare in XY e Z con due set di motori indipendenti per campione e punta
• Movimento fuori piano <1nm sull’intero intervallo di scansione XY
• Non Linearità dell’asse Z < 0.015%
• Ridottissimo effetto di risonanza del tavolino di scansione attraverso l’implementazione dell’algoritmo Forward-Sine
• Immagini AFM accurate grazie all’utilizzo della modalità True Non Contact Mode™
• Eccezionale ampiezza di banda passante in Z fino a 9kHz velocità di retroazione della punta fino a 62mm/s
• Massima velocità di scansione in True Non Contact Mode™
• Minore usura della punta per prolungato mantenimento dell’alta risoluzione in scansione
• Minimizzazione dell’interazione punta campione con conseguente assenza di danneggiamento o modifica superficialeImmagini AFM accurate grazie alla tecnologia True Sample Topography
• La topografia reale del campione viene quantificata attraverso un sensore di misura indipendente dal motore Z, lineare e a bassissimo rumore
• Disaccoppiamento delle tracce di scansione forward backward minore dello 0.15%
• Deriva termica meccanica minimizzata  attraverso l’utilizzo di materiali auto compensati in temperature
• Controllo attivo della Temperatura all’interno dell’isolatore acustico
• Cambio cantilever semplicissimo con grande area di accesso alla punta ed al campione
• Allineamento del laser attraverso le punte premontate e l’ottica top down
• Ingaggio automatico del cantilever con la superficie del campione entro 10s.
• Elettronica a 24 bit con tre amplificatori lock in interni, Q control e calibrazione della spring constant  inclusi.

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